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产品展示   首页 -> 产品展示 -> 光谱色谱仪 -> 荧光光谱仪
荧光光谱仪
发布日期:2024-1-23

1.探测器 SDD硅漂移探测器(电制冷,只需要通电即可) 典型分辨率:123ev,133ev(50000CPS) 输入计数率:1000KCPS,远大于Si-Pin与Si-Li(是其10倍左右) 峰背比:>25000 窗口厚度(可选):1μm Dura 碳窗和12.5μm Dura铍窗(一般的探测器在25μm,对轻元素有更好的透过率,独特的Dura技术)  碳窗、铍窗(可以耐酸、碱的腐蚀) 处理器:数字电路,放大倍数,时间常数可任意设置 高寿命,借助于其独特的Dura碳技术,探测器在几年的时间内探测器的真空不会变坏,晶体不会损伤,无需担心后期的维护费用 2.X射线管 高压:6Kv-50Kv连续可调 电流:0-1000μA连续可调 (0-2500μA可选,大电流对Na-K有更好的激发效果) 功率:50W 稳定性:8小时0.2% 正确操作的情况下寿命可以达到50000小时 3、高压发生器 输入电压:DC24V 输入电流:4A 输出电压:40Kv,1mA(2.5mA可选,适配2500mA光管) ****功率:50W 稳定性:8小时0.05% 4、精密结构设计 垂直倒角设计,精密的控制保证优异的重复性,上照式设计可以完全避免灰尘的污染,使得仪器可以做到真正的免维护 5、冷却散热系统 良好的多级温控自反馈电路,室温在5-25℃,仪器结果不会有影响。 6、自动进样系统 单样品自动进样 7、 光谱分析系统控制和数据处理系统 12位模/数转换器 19吋显示器 500G以上硬盘驱动 多功能标准键盘 打印机 8、分析软件 元素测量范围:Na-U 可以测量镀层厚度 标准曲线法,理论系数法,基本参数法,多元比例法 使您轻松应对各种样品的分析 开放式软件设计,您可以自己开发新的工作曲线 内置式参数设计,您在自己制作工作曲线时,各种干扰自动扣除 9、尺寸规格 长544mm*宽572mm(含推手)*高1152mm 重量约110kg

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