WX-5505功率半导体器件动态可靠性HTRB/DHTRB测试系统 现代宽禁带功率器件 (SiC, GaN) 上的开关晶体管速度越来越快，使得 测量和表征成为相当大的挑战。 与 HTRB高温偏置试验一一对应，AQG 324 该规定了动态偏置试验，即动态高温反偏（DHRB，Dynamic high- temperature reverse bias）。 WX-5505测试系统中可同时完成HTRB和DHTRB测试，整体架构模块化， 通讯协议、通讯接口等采用统一标准，便于后期扩展和维护。该系统集 成度高、应用覆盖面广，系统采用软、硬件一体化设计且功能丰富，在 保证系统稳定运行的同时，可以快速满足功率半导体可靠性测试需求。 参考标准 AQG 324 机动车辆电力电子转换器单元用功率模块的验证 AEC Q101车用分立半导体元器件的基于失效机理的应力测试验证 特点 WX-5505系统包含： 硬件平台+实时软件，其中硬件平台包 含： 多通道 高压脉冲电源、电加热测试夹具、WX3000恒流源、FTP 宽范围高压电源、测量采集控制模块等， 主要特点如下: 高压高频高精度脉冲源：dv/dt>50v/ns、频率50KHz； 高精度测试，电流分辨率10pA，电压分辨率100nV； 支持多参数测量：Vsd电压、Vgsth电压、Rds电阻、Igss漏电 流、Idss漏电流、温度； 具备数据管理功能，上位机可实现数据曲线、报告及自动保存； 高效率80通道测试、 每个通道独立控制，故障断开及时，互不影响； 保护功能：具备器件防呆，对于带电、高温开箱、测试参数异常、驱 动电路异常可实现保护功能， 具备测试夹具具电子化管理功能， 集成电加热功能测试夹具； 内部模块化设计，以及自我检验功能，可靠度高； 支持支持扩展外接标准仪表，客制化；